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獨石電容開路后的失效模式
發布時間:2019-11-14        瀏覽次數:13        返回列表
 獨石電容開路后的失效模式有哪些呢,一起跟小編了解下吧,在日后使用中也有大大的幫助。獨石電容器在使用過程中表現為開路失效主要有以下幾種形式,一種是培端電極與電容體剝高,另一種為在端電極焊點根部處瓷體斷開,端電極與電容體剝離的原因主要是由于端電極與電容體之間附著力較差,在裝焊后由于應力的作用而使端電極剝落,而焊點根部處瓷體斷開這樣一種失效模式。

主要與電容的安裝形式有關,由于有些混合電路要求體積小,所以將獨石電容器采用豎立安裝形式,豎立安裝的電容器由于核心較高,所以在受到較大的沖擊和振動應力作用時,在焊點附近受力較大,從而導致在焊點附近的瓷體斷裂,對于需要豎立安裝的場合,應該采用一個安裝支架,以降低電容器焊點根部的應力水平。

獨石電容器的另一種主要失效模式為電容值下降,對于該種失效模式有時表現為時好時壞,有時在測試過程中在電極兩端加一定外力時,電容值又能恢復正常,產生該類現象的原因主要有兩個方面,一是由于電容器在生產工藝過程中端電極與內電極之間連接有問題,另一種是由于端電極與內電極之間開裂而形成接觸有問題而導致容值下降。

對于前一種失效模式,其形成原因主要是由于在獨石電容器生產加工過程中,電容器端頭材料產生卷邊,而不能將內電極很好的暴露出來,使之與端電極之間不能形成很好的連接,正常情況應為線連接,而實際上形成的是多點連接形式。

在剛開始時表現出來的獨石電容值仍是正常的,但經長時間的使用后,由于連接點較少,連接點處電流密度相對較大,從而使該處的電極材料產生電遷移,當端電極與內電極之間完全斷開時,將會使獨石電容器的容值下降。

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